XRF荧光光谱仪薄膜标准样品

简要描述：XRF荧光光谱仪薄膜标准样品
奥富森提供的XRF薄膜标准样品综合了多种高真空镀膜技术进行制备；具有膜层厚度控制精确，厚度均匀，性能稳定等优点，元素纯度可达99.9%以上；同时综合ICP和XRF等检测技术，可精确标定薄膜标样的负载量。

产品型号：

所属分类：MICROMATTER元素标准膜

更新时间：2024-11-02

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XRF荧光光谱仪薄膜标准样品

奥富森提供的XRF薄膜标准样品综合了多种高真空镀膜技术进行制备；具有膜层厚度控制精确，厚度均匀，性能稳定等优点，元素纯度可达99.9%以上；同时综合ICP和XRF等检测技术，可精确标定薄膜标样的负载量。

《HJ 830-2017 环境空气颗粒物中无机元素的测定波长色散-X射线荧光光谱法》以及《HJ 829-2017 环境空气颗粒物中无机元素的测定能量色散-X射线荧光光谱法》均要求使用薄膜标样建立仪器的工作曲线。

XRF薄膜标准样品分SL(0.5-2μg/cm2)、VL(3-5μg/cm2)、L(15-25μg/cm2)、R(40-60μg/cm2)、H(80-120μg/cm2)五个负载量系列，其他负载量的产品可根据客户实际需求定制。

可供应的XRF薄膜标准样品的元素如下（可在表格内打√选择样品）：

元素

SL

VL

L

R

H

元素

SL

VL

L

R

H

Na (NaCl)

Co

Mg (MgF2)

Ni

Al

Cu

Si (SiO2)

Zn (ZnTe)

P (GaP)

As (GaAs)

S (CuSx)

Se

Cl (NaCl)

Sr (SrF2)

K (KCl)

Br (CsBr)

Ca (CaF2)

Cd (CdSe)

Sc (ScF3)

Ba (BaF2)

Ti

Pb

V

Sn

Cr

Sb

Mn

In

Fe

Mo

Ag

Hg (HgTe)

可提供超纯铝杯用于XRF测定大气颗粒物的辅助设备，用以消除或减小合金材料样品杯对样品结果的影响；采用生态环境部标准样品研究所提供的湖南重金属污染标准土壤样品，参考NIST 2783标样制备方式研制成功混合元素薄膜样品，可用于XRF分析方法的验证以及XRF实验室日常质控工作。

XRF薄膜标准样品的安装形式：

1、 安装环尺寸（厚度为1.5mm的亚克力玻璃）

圆形：

代码

外径(mm)

内径(mm)

25

25

17

32

32

25

36

36

29

47

47

39

推荐36号尺寸。

方形：

50x50mm方形尺寸，内置ø32mm的圆环，代码50。

2、 支撑膜材料

代码

支撑膜材料

备注

N

Nuclepore® polycarbonate

气溶胶多孔膜

M6.3

6.3μm厚度麦拉膜(Mylar)

M3.5

3.5μm厚度麦拉膜(Mylar)

推荐M6.3型材料。

3、 镀膜方式：

代码

镀膜位置排列

A

安装环-元素膜-支撑膜

B

元素膜-支撑膜-安装环

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